HIOKI FA1240-6X Hệ thống kiểm tra bằng đầu đo tự động (Flying probe tester)

Hệ thống kiểm tra bằng đầu đo tự động HIOKI FA1240-6X

Thử nghiệm điện xác minh việc lắp đúng
Hệ thống kiểm tra bảng mạch phổ biến.
Hioki PCB và thiết bị kiểm tra chất nền thúc đẩy năng lực cốt lõi của chúng tôi trong việc kiểm tra thành phần có độ chính xác cao. Dòng FA1240 là một công cụ kiểm tra hội đồng quản trị có 4 cánh tay cung cấp kiểm tra đa chức năng trong thời gian nhanh nhất là 0,025 giây. / Bước.

Hệ thống kiểm tra bằng đầu đo tự động (FLYING PROBE TESTER)

Model:

FA1240-6X

Maker:

HIOKI

Download Materials

Catalog

Tính năng và đặc trưng sản phẩm

Nhanh chóng hoàn thành các chương trình có tính đến chiều cao thành phần
Tự động tính toán nhiễu của cánh tay (khi được sử dụng với UA1780)
Được thiết kế để cải thiện khả năng thay thế đầu đo, giảm đáng kể thời gian ngừng hoạt động của hệ thống do thay thế đầu đo.
Kiểm tra tốc độ cao lên đến 0,025 giây / bước
Phát hiện trạng thái phao và tiếp điểm giả của IC
Hỗ trợ thử nghiệm tích cực (tính năng tùy chọn)
Thăm dò độ chính xác cao
Khu vực thử nghiệm lớn 510 × 460 mm (FA1240-61)
Khả năng vận chuyển tiêu chuẩn
Chức năng căn chỉnh tự động và chức năng kiểm tra trực quan đơn giản

Mẫu tuân thủ CE: FA1241-61.

Độ chính xác cao và giải pháp đảm bảo chất lượng hàn tự động cho mô-đun pin

Chuyển động 4 cánh tay hoàn toàn độc lập.
Rất dễ dàng thay đổi điểm thăm dò.
Không cần bận tâm mặc dù trộn bố cục thiết bị đầu cuối khác nhau.
Kiểm tra song song hai ô.

Ứng Dụng

Kiểm tra chất lượng bảng mạch, linh kiện….

Thông số kỹ thuật chung

	FA1240-61 FA1241-61	FA1240-63
Number of arms	4 (L, ML, MR, R)
Number of test steps	40,000 (max.)
Measurement ranges	Resistance: 400 μΩ to 40 MΩ Capacitance: 1 pF to 400 mF Inductance: 1 μH to 100 H Diode VZ measurement: 0 to 25 V Zener diode VZ measurement: 0 to 25 V, 25 to 80 V (optional feature) Digital transistors: 0 to 25 V Photo couplers: 0 to 25 V Short: 0.4 Ω to 400 kΩ Open: 4 Ω to 40 MΩ DC voltage measurement: 0 to 25 V
Measurement time	Max. 0.025 sec./step	Max. 0.025 sec./step
Probing precision	Within ±100 μm for each arm (X and Y directions)
Positioning repeatability	Within ±50 μm (probing positions)
Inter-probe pitch	Min. 0.15 mm Min. 0.5 mm (when using 4-terminal probes)	Min. 0.15 mm Min. 0.5 mm (when using 4-terminal probes)
Testable board dimensions	510 mm (20.08 in) W × 460 mm (18.11 in) D	400 mm (15.75 in) W × 330 mm (12.99 in) D
Power supply	200 V AC (single-phase), 50/60 Hz, 6 kVA (FA1241: 230 V AC)	200 V AC (single-phase), 50/60 Hz, 5 kVA
Dimensions and mass	1406 mm (55.35 in) H × 1300 mm (51.18 in) H × 1380 mm (54.33 in) D, 1150 kg (40,564.4 oz)	1266 mm (49.84 in) H × 1369 mm (53.90 in) H × 1425 mm (56.10 in) D, 1050 kg (37,037 oz)

Inquiry