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項目清單
產品資訊

圖像的光譜分析可以每1nm執行高解析度(500萬畫素)高輝度分光光譜測量(170億cd / m2)
它是一種2D分光光譜儀,與傳統的點測量分光光譜儀具有相同的性能。
我們使用具有良好追朔性的光源對設備進行校正,實現了高精度的亮度和色度精度保證。
非破壞性,非接觸式,可以評估光源和物體的光譜特性,如光源的波長特性,材料的光譜透射特性,物體的光譜反射特性等。
2D分光輝度計
Model:
SR-5100
Maker:
TOPCON TECHNOHOUSE CORPORATION
特點
- 1nm分光測光方式的高精度,完整豐富的顯示功能
- 1376×1024畫素的分光光譜分析,可運用在更多不同領域
- 利用分光光譜分析,可運用在更多不同領域
- 具有日本國家標準的追溯體系,高精度的輝度,色度量測
影片
規格
測量模式 | 分光模式 |
感光器 | 500萬畫素 CMOS Imagesensor |
對物鏡 | 標準:f=32mm 標準+廣角近接鏡頭:f=24mm 望遠:f=140mm Micro |
有効畫素 | 2448×2048 |
量測範圍 | 0.5~17,000,000,000 cd/m2 |
量測波長範圍 | 380~780nm |
波長精度 | 在±0.5nm *Hg輝線、高精度模式時 |
分光波長幅度 | 7nm (半値幅) |
波長解析度 | 1nm |
直線性 | 輝度:±2%以内 SR-5100HWS/SR-5000HM 色度:±0.0035以内(≦1cd/m2) ±0.0025以内(1cd/m2<) ±0.005以内 SR-5100HT 色度:±0.0035以内(≦1cd/m2) ±0.0030以内(1cd/m2<) ±0.005以内 |
面内MURA均一性 | 輝度:±2%以内 色度:±0.003以内 |
再現性精度 | SR-5100HWS/SR-5000HM 輝度:0.6%以内(≦1cd/m2) 0.5%以内(1cd/m2<) 色度:0.003以内(≦1cd/m2) 0.002以内(1cd/m2<) SR-5100HT 輝度:0.8%以内(≦1cd/m2) 0.5%以内(1cd/m2<) 色度:0.004以内(≦1cd/m2) 0.003以内(1cd/m2<) |
傳輸介面 | USB3.0/外部Trigger |
電源 | 專用AC電源 AC100~240V (50/60Hz) |
消耗功率 | 約20W |
使用條件 | 0~35℃、80%R.H.以下(無結露) |
外形尺寸(不含突出部分) | 廣角:W162×H247×D402.4 mm 望遠:W162×H247×D412.5 mm Micro:W162×H247×D330.5 mm |
重量 | 廣角:約6.3kg 望遠:約8.2kg Micro:約5.8kg |