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項目清單
產品資訊
- 産品資訊
- TOPCON 2D分光輝度計 SR-5100
圖像的光譜分析可以每1nm執行高解析度（500萬畫素）高輝度分光光譜測量（170億cd / m2）
它是一種2D分光光譜儀，與傳統的點測量分光光譜儀具有相同的性能。
我們使用具有良好追朔性的光源對設備進行校正，實現了高精度的亮度和色度精度保證。
非破壞性，非接觸式，可以評估光源和物體的光譜特性，如光源的波長特性，材料的光譜透射特性，物體的光譜反射特性等。
2D分光輝度計
Model:
SR-5100
Maker:
TOPCON TECHNOHOUSE CORPORATION
特點
- 1nm分光測光方式的高精度，完整豐富的顯示功能
- 1376×1024畫素的分光光譜分析，可運用在更多不同領域
- 利用分光光譜分析，可運用在更多不同領域
- 具有日本國家標準的追溯體系，高精度的輝度，色度量測
影片
規格
| 測量模式 | 分光模式 |
| 感光器 | 500萬畫素 CMOS Imagesensor |
| 對物鏡 | 標準：f=32mm 標準＋廣角近接鏡頭：f=24mm 望遠：f=140mm Micro |
| 有効畫素 | 2448×2048 |
| 量測範圍 | 0.5～17,000,000,000 cd/m2 |
| 量測波長範圍 | 380～780nm |
| 波長精度 | 在±0.5nm *Hg輝線、高精度模式時 |
| 分光波長幅度 | 7nm (半値幅) |
| 波長解析度 | 1nm |
| 直線性 | 輝度：±2%以内 SR-5100HWS/SR-5000HM 色度：±0.0035以内(≦1cd/m2) ±0.0025以内(1cd/m2＜) ±0.005以内 SR-5100HT 色度：±0.0035以内(≦1cd/m2) ±0.0030以内(1cd/m2＜) ±0.005以内 |
| 面内MURA均一性 | 輝度：±2%以内 色度：±0.003以内 |
| 再現性精度 | SR-5100HWS/SR-5000HM 輝度：0.6%以内(≦1cd/m2) 0.5%以内(1cd/m2＜) 色度：0.003以内(≦1cd/m2) 0.002以内(1cd/m2＜) SR-5100HT 輝度：0.8%以内(≦1cd/m2) 0.5%以内(1cd/m2＜) 色度：0.004以内(≦1cd/m2) 0.003以内(1cd/m2＜) |
| 傳輸介面 | USB3.0/外部Trigger |
| 電源 | 專用AC電源 AC100～240V (50/60Hz) |
| 消耗功率 | 約20W |
| 使用條件 | 0～35℃、80%R.H.以下(無結露) |
| 外形尺寸(不含突出部分) | 廣角：W162×H247×D402.4 mm 望遠：W162×H247×D412.5 mm Micro：W162×H247×D330.5 mm |
| 重量 | 廣角：約6.3kg 望遠：約8.2kg Micro：約5.8kg |
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