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產品資訊

SYCATUS 光雜訊分析儀 A0040A

以功率譜密度形式捕獲並顯示光頻率噪聲

1/f 噪聲，白噪聲和洛倫茲線寬分析，ITLA等數字相干傳輸系統的評估，選配RIN / 雷射光線寬測試功能

光雜訊分析儀

Model:

A0040A

Maker:

SYCATUS

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特點

  • SYCATUS提供全新的光頻率噪聲測試方案-A0040A光噪聲分析儀
  • A0040A以功率譜密度形式來分析光頻率噪聲
  • 隨著數字相干傳輸方案的演進，雷射光源的光譜純度成為重要的關注指標
  • ITLA等高性能的雷射光源面臨著頻率波動問題，這是由電路的集成化或者復雜控制方案導致的EMI引起的
  • 雷射光線寬測試是評估激光源光譜純度的傳統方法。但是雷射光線寬不足以分析光頻率噪聲的成分
  • 在數字相干傳輸系統中基於DSP的頻偏補償受到帶寬限制，因此光頻率噪聲的頻譜分析顯得格外重要
  • A0040A通過集成SYCATUS的獨創技術和是德科技的X系列信號分析儀，以功率譜密度形式展現光頻率噪聲的特性

規格

項目 技術規格
光波常範圍 1520 nm to 1620 nm
光頻率噪聲測試帶寬 5 Hz to 80 MHz（取决於信號分析儀的分析帶寬)
光頻率噪聲最小測量值 10 Hz-rms2/Hz (@10 MHz, 標準模式 )
0.02 Hz-rms2/Hz (@10 MHz, 高靈敏度模式)
輸入光功率  -7 dBm to +3 dBm
測量時間 < 1 s ( 高速測量模式 )

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about Nihon Denkei Co., Ltd.