MICROTEST 層間短路測試儀 7750 (繞線元件脈衝測試)

非破壞性、高速脈衝電壓與阻尼振盪波形比對繞線元件絕緣不良

MICROTEST 7750線圈層間短路測試儀，提供1200V/5200V/10000V脈衝電壓輸出，200MHz/9bits高速取樣技術提供多種比對模式，包含總面積比對、面積差比對、電暈數比對、顫抖數比對、二階微分比對與波形比對模式，測試速度高達10次/秒，上自動線是最佳的選擇。針對小感量可選型7750-1層間短路測試儀搭載FX-IM0001四線式SMD元件測試治具，支援電壓補償功能，避免配線引起的等效電感引起測試電壓誤差過大，為小電感產品把關品質。

層間短路測試儀(繞線元件脈衝測試)

Model:

7750

Maker:

MICROTEST

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把關EV繞線元件的絕緣性能解決方案

提升繞線元件絕緣可靠度測試方案

為什麼繞線元件一定要檢驗層間短路？

繞組線圈細微的層間短路小瑕疵，不易在低壓性測試站被檢測出，因此生產線將瑕疵的半成品組裝成馬達/變壓器，工廠將貨交給下游組裝廠組裝至家電產品，於成品站進行功能性測試，細微層間短路不良的線圈很可能促使成品檢測時出現NG，會浪費更多製造成本。

生產線加入層間短路測試站，以瞬間脈衝大電壓檢測繞組線圈的漆包線/絕緣系統的品質，確保未來使用者在長時間使用產品時，不會因為層間短路導致馬達燒毀或停止運行的狀況發生

7750層間短路測試儀檢測技術

採用方式為『非破壞性、高速脈衝電壓與阻尼振盪波形比對』

施加脈衝電壓於繞組線圈的兩端，在不破壞被測物的條件下，透過L/C諧振產生阻尼衰減振盪波形，進行標準品與被測物比對兩者間的瞬間波形，在產品壽命性品質下提前檢出層間短路、內部線圈或磁芯絕緣瑕疵的不良品。

首先須建立標準品之波形，再與產線生產的被測物進行比對

以下為不良品反應出這些電氣特性已改變

– 線圈的電感量
– 品質因數Q值
– 線圈的圈數差 (電壓差)
– 磁芯的材質差異性
– 線圈內部有匝間短路

功能特點

最小電感值≥0.1μH
電壓補償功能
高速脈衝取樣率200MHz/9bits
崩潰電壓測試
穩定極速測試：10次/秒
可程式非破壞性脈衝電壓測試
儀器內建可儲存128組測試波形
USB Host快速存取測試畫面
五種波形比對，檢測繞線元件層間短路不良

Application 應用

指的是磁性元件同一個繞組是由很多匝線繞製而成，如果絕緣不好將造成疊加在一起的線圈之間會短路

即是此組繞組有一部份線圈直接被短路而無法發揮電感作用，磁場就會和之前不同，不對稱，也將會對剩餘的線圈電流變大，若發生在馬達的運行中，振動變大、電流增大、出力相對減小

來自於材料與生產加工兩大來源

漆包線製程	繞組線圈加工
上絕緣漆過程，可能刮傷漆包線	勾線/脫序/ 包線
漆包線龜裂	繞線跨槽
氣泡縫隙	附著到錫垢

支援6種比對分析模式

總面積差比對模式 AREA
當待測物發生層間短路時，由於線圈能量損耗增加，諧振阻尼係數變大，諧振振幅會變小，總面積跟著變小，是檢查層間短路最基本的參數

面積差比對模式 DIFF
將標準樣品與待測產品兩者波形點對點面積之相異處加總則稱為「面積差」。當待測物發生匝間短路時，電感變小（類似變壓器次極圈短路時，初極圈電感會變小），造成後段波形振盪頻率發生變化，諧振波形相位改變，面積差隨之改變

(藉此比較電感值的差異性)

電暈數比對模式 CORONA
繞組線圈於高壓脈衝測試中，自身絕緣系統損壞而產生尖端放電，透過波形顯示放電曲線中出現電暈的現象，此功能可統計電暈發生的次數根據其偏差程度進行判定

二階微分比對模式 LAPLACIAN
線圈絕緣品質不良在高壓衝擊下產生放電，引起振盪波形產生快速的變化，透過7750二階微分演算獲得最高放電量，有效檢測一體成型電感因焊點不良造成漏電的品質問題

波形比對模式 COMP
將標準波設定一可容許之波形範圍，此項目可同時判斷諧振波的振幅及相位，可加大匝間短路的檢出能力

顫抖數比對模式 FLUT
當繞組線圈有發生匝間放電的現象時，波形將產生顫抖，因此儀器將波形顫抖程度量化成數值進行比對

層間短路不良會對馬達成以下問題

– 發熱/燒毀

被短路的線圈將流過很大的電流 (是正常電流的2~10倍)

– 產生雜音

匝間短路的線圈在工作運行中振動很大

– 轉矩降低

被短路的線圈將電流不平衡導致轉矩降低

– 負載無法啟動

短路嚴重的線圈將導致電機無法帶動負載

如何檢測繞線元件的層間不良問題

規格

Selection

7750-1
Impulse Voltage	10V-1200V
Lowest Inductance	≥0.1μH
Voltage Resolution	0.1V
Voltage Accuracy	±（1% of setting ＋ 5V）
Pulse Energy	0.028 joule

7750-5
Impulse Voltage	100V-5200V
Lowest Inductance	≥10μH
Voltage Resolution	1V
Voltage Accuracy	±（1% of setting ＋ 10V）
Pulse Energy	0.5 joule

7750-10
Impulse Voltage	200V-10000V
Lowest Inductance	≥20μH
Voltage Resolution	5V
Voltage Accuracy	±（1% of setting ＋ 20V）
Pulse Energy	2 joule

SPEC

Model	7750-1 / 7750-5 / 7750-10
Sampling Rate	200MHz/9 bit
Pulse Number	Max. 32
Input Impedance	20MΩ
Measurement Statistics	●
Breakdown Voltage	●
Measurement Time	10 times/second

Provides 6 waveform comparison

nTotal area comparison

nDifferential area comparison

nLAPLACIAN Comparison

nCorona comparison

nCOMP Comparison

nFLUT Comparison

PLC Remote Control	Test、About
PLC Remote Output Signal	PASS、FAIL、HV Output、Testing
Built-in Storage	200 sets testing waveform
Power Supply	Voltage：98Vac-132Vac or 192Vac-264Vac
Power Supply	Frequency：50/60Hz ±5%
Power consumption	45VA
Environment	Temperature：10℃-40℃
Environment	Humidity：20-80%RH
Dimension	430x132x370 mm (WHD)
Weight	7Kg
Interface	USB Host/Device、RS-232、Remote LAN、GPIB (Option)
Display	7″ dot-matrix (800*480 )

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