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項目清單
產品資訊

高速,高穩定性測量,提高生產量,測量時間:最快0.5ms,測量值偏差0.07%
阻抗分析儀
Model:
IM7585
Maker:
HIOKI
特點
- 測量頻率:1MHz~1.3GHz
- 測量時間:最快0.5ms(模擬測量時間)
- 測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值)
- 基本精度:±0.65% rdg.
- 緊湊主機僅機架一半大小,測試頭尺寸僅手掌大小
- 豐富的接觸檢查(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)
- 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
規格
測量模式 | LCR(LCR測量),分析(掃頻測量),連續測量 |
測量參數 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保證範圍 | 100 mΩ~5 kΩ |
顯示範圍 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
測量頻率 | 1 MHz~1.3 GHz (設置解析度100kHz) |
測量信號電平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm 電壓 (V)模式: 4 mV~502 mVrms 電流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms |
輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時) |
顯示 | 彩色TFT8.4英寸、觸屏 |
測量時間 | 最快0.5ms(FAST、模擬測量時間、代表值) |
功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定(分類功能)、面板讀取·保存、存儲功能、 等效電路分析、相關補償 |
介面 | EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件) |
電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
體積及重量 | 主機: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 測試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
附件 | 電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1 |